الأشعة السينية diffractometer Ultima الرابع سلسلة مجتمعة متعددة الوظائف التفاصيل :

مقدمة موجزة من الصك

الجمع بين الوظائفXالأشعة السينية diffractometerUltima IVسلسلة عالية الأداء مسحوق متعدد الوظائفXحيود الأشعة السينية ، والذي يستخدمCBOعبر نظام بصري ، أداة يمكن أن تتراوح من مسحوق عادي عينةIn-Planeالفيلم عينة اختبار . من خلال اعتماد هيكل المركبة ، من خلال الجمع بين مختلف الوحدات ، يمكن إجراء اختبارات مختلفة .

ثانياً - المعايير التقنية

1. Xمولد الأشعة السينية السلطة3KW

2. مقياس الزوايا هو مقياس الزوايا الأفقية

3. مقياس الزوايا زوي1 / 10000درجة

4. قابل للتعديل مع برنامج فتحة المنقل مقياس الزوايا

5. الجرافيت مستوحد اللون مع انعكاس عالية الكفاءة

6. CBOعبر مسار الضوء ، وتوفير التركيز على مسار الضوء ، وارتفاع كثافة عالية الدقة مسار الضوء الموازيMirror( فريدة من نوعها في الفلسفة )

7. زاوية صغيرة تشتت اختبار الجمعية

8. متعددة الأغراض فيلم اختبار الجمعية

9. المنطقة الصغيرة اختبار مكون

10. In-Planeاختبار المكونات ( فريدة من نوعها في العلوم )

11. عالية السرعة للكشف عنD/teX-Ultra

12. Xحيود الأشعة السينيةوفي وقت واحد جهاز قياس مسعر المسح التباينيXRD-DSC

13. وتشمل برامج التحليل :XRDتحليل حزمةNANO-Solverحزمة برامجGXRRحزمة برامج

ثالثاً - السمات الرئيسية

الجمع بين الوظائفXالأشعة السينية diffractometerUltima IVسلسلة ، والتي يمكن تطبيقها على نطاق واسع في مختلف مجالات تحليل هيكل المواد المختلفة .

المواد التي يمكن تحليلها تشمل المواد المعدنية ، المواد غير العضوية ، المواد المركبة ، المواد العضوية ، نانو المواد ، المواد فائقة التوصيل .

المواد التي يمكن تحليلها تشمل مسحوق عينة ، عينة ضخمة ، رقيقة عينة ، عينة صغيرة

التطبيقات الرئيسية هي :

1. مرحلة التحليل النوعي والكمي مسحوق عينة

2. حساب crystallinity وحجم الحبوب

3. تحديد نظام بلوري ، حجم الحبوب و التشويه

4. Rietveldتحليل هيكل

5. تحليل عينة من الفيلم ، بما في ذلك مرحلة الفيلم ، فيلم متعدد الطبقات سمك ، خشونة السطح ، كثافة الشحنة

6. In-Planeهيكل الجهاز في وقت واحد قادرة على قياس الاتجاه الرأسي من عينة وهيكل من عينة عمق الاتجاه

7. زاوية صغيرة تشتت و توزيع حجم الجسيمات النانوية

8. تحليل عينة صغيرة